北京
PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術研討會再次起航，以AI+測試為主題，走遍全國多個城市，與全國各地朋友相聚，共同探討AI+測試的落地，共贏智能測試的未來。
PART2
為什么參會？
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢，探討 AI 如何真正賦能測試開發流程
深度解析 NI Nigel? AI如何提升 LabVIEW 與 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平臺自動化測試方案，加速系統級測試構建
多個專題覆蓋光電、高速 ADDA 等關鍵測試方向
前沿射頻應用方案及案例
現場 Demo 參觀與互動交流，直觀了解方案應用場景
PART3
誰適合參加？
測試測量工程師、研發工程師
工程團隊負責人，技術總監
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者，開發者
武漢站
基本信息
活動時間
2026年5月26日（星期二）
14:00-17:25（12:30開始簽到）
活動地點
武漢光谷凱悅酒店, 三樓沙龍1廳
（地址：湖北省武漢市洪山區珞喻路1077號）
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碼上報名
NI測試測量技術研討會武漢站
研討會日程
實機展示
NI NigelTM AI助手體驗
多通道多信號類型數據采集與分析框架
通過配置快速完成PXI自動化測試任務
6G AI 通信開發平臺
全新軟件定義無線電產品X420
光電子應用測試方案
大數據量射頻信號高速錄制回放系統
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