點(diǎn)源碳捕集希望用膜替代胺洗滌以降成本。原子薄多孔石墨烯因埃尺度孔兼具高通量與選擇性而受關(guān)注,但以往要高孔密度多依賴80–90°C臭氧刻蝕,室溫氧化很慢。本文指出反應(yīng)副產(chǎn)物O2在表面積累形成濃差極化,阻礙臭氧傳質(zhì)。作者用微通道狹縫流動(dòng)反應(yīng)器強(qiáng)化傳質(zhì),使室溫1小時(shí)內(nèi)孔密度提升10倍,制得厘米級(jí)膜,CO2/N2選擇性21、滲透率4050 GPU,并通過(guò)短暫二次暴露實(shí)現(xiàn)孔擴(kuò)張進(jìn)一步增效。
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圖1 微流控反應(yīng)器中室溫孔摻入臭氧氧化原理圖
已有研究表明,石墨烯的孔密度會(huì)隨氧化溫度升高而增加,高溫可顯著加快臭氧在表面的反應(yīng)動(dòng)力學(xué);例如在80°C下采用O?/O?混合氣體氧化,可獲得約4×1011 cm?2的透氣孔密度,而常規(guī)室溫臭氧氧化幾乎難以產(chǎn)生可觀孔密度(圖1a)。為在室溫下提升成孔效率,作者提出通過(guò)強(qiáng)化傳質(zhì)來(lái)提高局部臭氧濃度:設(shè)計(jì)亞毫米間隙的狹縫流動(dòng)反應(yīng)器,并設(shè)置兩種結(jié)構(gòu),名義狹縫為1000 μm與400 μm;考慮銅箔厚度約100 μm后,實(shí)際流道間隙分別為900 μm與300 μm,對(duì)應(yīng)FC900與FC300(圖1b)。將2×8 cm2的CVD單層石墨烯/銅箔樣品固定于狹縫內(nèi),利用受限流道提高氣體流速與傳質(zhì)強(qiáng)度,從而加快室溫臭氧氧化并生成孔前驅(qū)體(圖1c)。隨后在390 nm光照下促使孔前驅(qū)體發(fā)生氣化并開孔,得到多孔石墨烯結(jié)構(gòu),完整呈現(xiàn)了“室溫氧化—光照開孔”的成孔路線(圖1d)。
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圖2 受限臭氧流量對(duì)石墨烯常溫氧化的影響
狹縫流道中氣體流經(jīng)石墨烯表面會(huì)形成擴(kuò)散邊界層,近表面臭氧被副產(chǎn)物氧氣稀釋,導(dǎo)致室溫臭氧氧化受傳質(zhì)限制;在Re≈7–11的層流條件下,傳質(zhì)系數(shù)與臭氧通量隨氣體速度呈
增長(zhǎng),因此提高速度可同時(shí)提升通量并壓薄邊界層,作者據(jù)此構(gòu)建900 μm與300 μm兩種狹縫流道反應(yīng)器以增強(qiáng)輸運(yùn)(圖2a)。CFD模擬顯示流道使近表面平均速度由0.5 cm s?1提升至15 cm s?1(FC900)并進(jìn)一步到45 cm s?1(FC300),邊界層厚度由約4.3 mm降至約0.12 mm,Péclet數(shù)由約5升至約300,表明輸運(yùn)由擴(kuò)散主導(dǎo)轉(zhuǎn)為對(duì)流增強(qiáng)(圖2b)。微拉曼測(cè)繪表明隨速度提高D峰增強(qiáng)、2D峰減弱且氧化更均勻,說(shuō)明增強(qiáng)傳質(zhì)可顯著促進(jìn)室溫氧化(圖2c)。隨后390 nm短時(shí)光照將氧化團(tuán)簇轉(zhuǎn)化為孔,且缺陷密度在光照前后基本一致,證明缺陷主要源于氧化步驟,狹縫流道的幾何設(shè)計(jì)有效提升了氧化程度與相關(guān)缺陷密度(圖2d、圖2e)。
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圖3 常溫下不同條件下臭氧處理石墨烯樣品的氧官能團(tuán)演化
為研究室溫下臭氧對(duì)石墨烯的作用,作者采用X射線光電子能譜進(jìn)行表征,并通過(guò)“快速轉(zhuǎn)移+真空保存”盡量降低空氣污染:樣品在不到1分鐘內(nèi)放入定制XPS樣品夾具,并在真空中保存直至進(jìn)入XPS腔體。原始石墨烯在528–538 eV范圍內(nèi)幾乎不出現(xiàn)O 1s特征峰,說(shuō)明轉(zhuǎn)移污染很小。臭氧處理后,C 1s譜峰在284.2 eV附近呈現(xiàn)不對(duì)稱主峰,并出現(xiàn)與環(huán)氧/乙醚相關(guān)的肩峰,符合臭氧誘導(dǎo)氧化引入含氧基團(tuán)的特征(圖3)。基于傳質(zhì)系數(shù)隨速度滿足
的標(biāo)度關(guān)系,作者估算受限微通道可將臭氧傳質(zhì)系數(shù)相對(duì)“無(wú)流道”提升約3.1倍(FC900)和約4.5倍(FC300)。對(duì)應(yīng)地,C–O組分強(qiáng)度隨傳質(zhì)增強(qiáng)而上升,在最高速度45 cm s?1條件下C–O占比最高約13%,與拉曼結(jié)果相一致,說(shuō)明流道結(jié)構(gòu)顯著強(qiáng)化了臭氧供給并加速官能化(圖3b–d)。同時(shí),少量羰基信號(hào)可能來(lái)自不可避免的空氣暴露,但其在不同條件下基本不變;相比之下,C–O隨臭氧輸送增強(qiáng)而持續(xù)增加,進(jìn)一步表明傳質(zhì)是官能團(tuán)生成的關(guān)鍵控制因素(圖3b–d)。
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圖4 不同流動(dòng)條件下室溫氧化形成的石墨烯孔結(jié)構(gòu)分析
像差校正HRTEM直接成像用于驗(yàn)證傳質(zhì)增強(qiáng)是否生成CO?選擇性埃尺度孔,并用80 keV、低劑量電子束避免成像誘發(fā)開孔(圖4a)。隨氣體速度提高,空位缺陷密度由0.4×1012 cm?2(0.5 cm s?1)升至3.2×1012(15 cm s?1)與4.5×1012 cm?2(45 cm s?1),與拉曼和XPS趨勢(shì)一致,且室溫樣品密度可超過(guò)部分高溫報(bào)道,凸顯傳質(zhì)的重要性(圖4a)。作者按缺失碳原子數(shù)分類孔,孔-10及以上視為CO?可滲透,小于孔-10為不可滲透,并給出兩類示例(圖4b)。無(wú)流道時(shí)缺陷多為單缺陷、以不可滲透為主;引入FC900與FC300后,可滲透孔密度增至1.4×1011與2.2×1011 cm?2,說(shuō)明受限流動(dòng)促使缺陷向可滲透孔轉(zhuǎn)化(圖4c)。
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圖5 石墨烯樣品經(jīng)連續(xù)臭氧氧化后光子氣化后的受控?cái)U(kuò)孔
室溫受限流氧化雖能生成CO?可滲透孔,但AC-HRTEM顯示不滲透缺陷仍占主導(dǎo),限制膜通量,因此作者提出選擇性“擴(kuò)孔”已有不可滲透空位以提升分離性能(圖5a)。其思路是室溫下新孔成核能壘較高,而孔邊緣對(duì)臭氧更活潑,且石墨烯在銅箔上因電荷轉(zhuǎn)移產(chǎn)生局部摻雜,可降低孔邊氣化能壘,從而更利于擴(kuò)大既有孔而非產(chǎn)生大量新缺陷(圖5a)。實(shí)驗(yàn)流程為:石墨烯先在FC900、25°C下臭氧處理1 h并光照5 s開孔,再在同一反應(yīng)器進(jìn)行第二輪臭氧處理5–30 min(圖5a)。拉曼顯示5 min即可使ID/IG由1.10升至2.25,延長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)一步加寬譜帶并出現(xiàn)(D+D′)帶,指示無(wú)序增加(圖5b)。缺陷距離LD隨二次處理由8.7 nm降至5 nm,反映孔隙度提高(圖5b)。HRTEM證實(shí)總?cè)毕菝芏茸兓淮螅獵O?可滲透孔密度由1.4×1011增至2.2×1011 cm?2,說(shuō)明二次臭氧主要實(shí)現(xiàn)“擴(kuò)孔”,在增加有效孔數(shù)量的同時(shí)避免過(guò)度損傷晶格(圖5c–e)。
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圖6 不同氧化條件下制備厘米級(jí)多孔石墨烯的性能評(píng)價(jià)
研究人員將2×8 cm2大面積石墨烯在25°C臭氧氧化并光照開孔,可選再進(jìn)行第二輪臭氧以提高可滲透孔密度;隨后在多孔石墨烯上沉積約1 μm PTMSP增強(qiáng)層,并疊加TRT以便操作,將TRT/PTMSP/石墨烯/銅電化學(xué)剝離后轉(zhuǎn)移到多孔PES載體,最后130°C加熱2 min去除TRT得到PTMSP/石墨烯/PES膜,膜片約4.5×1.5 cm(圖6a)。厘米級(jí)樣品裝入1 cm直徑膜模塊測(cè)試,且每批至少獲得3個(gè)一致重復(fù)樣品,證明可擴(kuò)展與可重復(fù)(圖6b)。氣體阻力模型評(píng)估顯示,無(wú)流道制備膜CO?滲透率僅約11 GPU;在FC900/FC300高速度條件下滲透率提升至>1000 GPU且選擇性提高至約18,延長(zhǎng)氧化時(shí)間雖可使?jié)B透率>2000 GPU但選擇性下降,提示孔合并導(dǎo)致過(guò)度變大,60 h測(cè)試滲透率下降約15%并可通過(guò)130°C熱處理部分恢復(fù)(圖6c)。第二輪臭氧進(jìn)一步提升性能,F(xiàn)C900二次暴露5–15 min時(shí)CO?滲透率達(dá)約3650–3800 GPU且CO?/N?選擇性升至21左右;加濕進(jìn)料使?jié)B透率下降但選擇性上升,說(shuō)明孔尺寸仍處于有效分離范圍,二次時(shí)間過(guò)長(zhǎng)則選擇性顯著下降,強(qiáng)調(diào)需精確控制暴露時(shí)間以平衡孔密度與選擇性(圖6d)。
綜上,本文提出“受限流動(dòng)+臭氧氧化+可控?cái)U(kuò)孔”的室溫成孔方法。通過(guò)縮小流道提高氣體速度,削弱表面濃度極化,使室溫氧化更快并形成CO?選擇性孔;再用短時(shí)二次臭氧實(shí)現(xiàn)孔的適度擴(kuò)大,便于精確調(diào)孔。厘米級(jí)膜制備證明工藝穩(wěn)定且可放大。該方法無(wú)需高溫設(shè)備,有望用于低能耗碳捕集,并為原子薄納米孔膜的氣體分離應(yīng)用提供可擴(kuò)展路線。
來(lái)源:歐米伽領(lǐng)地
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